光阻法單顆粒可為超大粒徑顆粒提供可靠、的粒徑和計(jì)數(shù)數(shù)據(jù)，揭示出了不同于以往的粒徑分布數(shù)據(jù)，可以清晰地呈現(xiàn)粒徑分布，而粒徑分布往往是直接與材料物性相關(guān)聯(lián)的，從研發(fā)到生產(chǎn)，各大實(shí)驗(yàn)室均已應(yīng)用并驗(yàn)證了儀器可以用作重塑產(chǎn)品品質(zhì)的強(qiáng)有力工具。

   光阻法單顆粒是創(chuàng)先使用自動(dòng)稀釋技術(shù)來對樣品進(jìn)行檢測，且提供高分辨率的粒徑檢測分析儀，采用擁有的單顆粒測量技術(shù)和動(dòng)態(tài)自動(dòng)稀釋技術(shù)實(shí)現(xiàn)單顆粒依次檢測分析，具有的靈敏度、解析度和度，不存在顆粒間相互干擾問題。由于光阻法單顆粒獲得的是真實(shí)粒度分 布，因此測量結(jié)果重復(fù)性好、可靠、統(tǒng)計(jì)精度高，特別適于檢測分析亞微米顆粒體系中較大顆粒的分布信息。

   光阻法單顆粒動(dòng)態(tài)自動(dòng)稀釋和清洗系統(tǒng)使得測試方便快捷。只需通過鼠標(biāo)的單擊操作，即能幫助用戶在短時(shí)間內(nèi)完成從進(jìn)樣到檢測，進(jìn)而清洗系統(tǒng)的所有操作，使用戶獲得粒徑的詳細(xì)分布信息。光阻法單顆粒進(jìn)行升級、檢定、計(jì)量、校準(zhǔn)，還可用于新測試方法的評價(jià)與檢驗(yàn)、儀器質(zhì)量和性能核查和量值比對、人員培訓(xùn)考核等。

   光阻法單顆粒是根據(jù)光的散射原理測量粉顆粒大小的，具有測量的動(dòng)態(tài)范圍大、測量速度快、操作方便等優(yōu)點(diǎn)，是一種適用面較廣的粒度儀，原理上可以用于測量各種固體粉末、乳液顆粒、霧滴的粒度分布，現(xiàn)實(shí)的儀器一般根據(jù)具體的用途作具體的設(shè)計(jì)。光在行進(jìn)中遇到微小顆粒時(shí)，會(huì)發(fā)生散射，大顆粒的散射角較小，小顆粒的散射角較大。儀器能接收的散射角越大，則儀器的測量下限就越低。